简述斯特列尔判断、瑞利判断、分辨率、点列图这四种像质评价方法的优缺点 评分规则: 解析：斯特列尔判断是评价小像差光学系统成像质量的一个比较严格而又可靠的方法。 瑞利判断是一种较为严格的像质评价方法，主要适用于小像差光学系统，因为波像差易于计算，且与几何像差的关系比较简单，根据波像差情况能够指导像差校正，并得出几何像差的公差范围。但是瑞利判断只考虑波像差的最大值，没有考虑缺陷部分在整个波面面积中所占的比重，所以还是不够严密。分辨率用一个数值定量地表示实际光学系统成像质量的好坏，测定方法也比较简单，广泛应用于光学仪器的质量检验。由于光学系统的分辨率与相对孔径、照明条件、观测对象、背景亮度和光能接收器等有关，所以，只用于大像差系统的像质评价，而且存在伪分辨现象。点列图是一种简单易行、形象直观的像质评价方法，利用几何光线追迹可以准确地得到点物的成像情况，仅适用于大像差光学系统，并忽略了衍射效应。